差热分析仪是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。作为一种可控程序温度下的热效应的经典热分析方法,在当今各类材料与化学领域的研究开发、工艺优化、质检质控与失效分析等各种场合早已得到了广泛的应用。
在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
差热分析仪特点:
1、仪器主控芯片采用Cortex-M3内核ARM控制器,运算处理速度更快,温度控制更。
2、采用USB双向通讯,操作更便捷。
3、采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏,界面更友好。
4、采用镍铬合金传感器,更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。