差热分析仪DTA

简要描述：DZ3320A 差热分析仪是由南京大展检测仪器自主研发、生产和销售，采用了全新的炉体设计，可高温测试，开盖式设计，测试样品操作便捷。更多仪器的相关参数和优点，可详细咨询。

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详细介绍

仪器介绍：

DZ3320A 差热分析仪在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

仪器性能优势：

1.仪器主控芯片采用ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更稳定。

2.采用USB双向通讯，操作更便捷。

3.采用7寸全彩LCD触摸屏，界面更友好。

4.采用镍铬合金传感器，更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。

技术参数：

温度范围	室温~1150℃
量程范围	0～±2000uV（可以拓展）
DTA灵敏度	0.01uV
DTA精度	0.1
升温速率	0.1～100℃/min
温度分辨率	0.01℃
温度准确度	±0.1℃
温度重复性	±0.1℃
温度控制	升温：程序控制可根据需要进行参数的调整恒温：程序控制恒温时间任意设定
炉体结构	炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作
气氛控制	内部程序自动切换
数据接口	标准USB接口配套数据线和操作软件
显示方式	24bit色 7寸 LCD触摸屏显示
参数标准	配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温度进行校正
基线调整	用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
工作电源	AC 220V 50Hz（可定制其它规格）

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